陶瓷平面度测量标准块计量院专用

平面度标准块

作者:顶柱科技(上海)有限公司 文章来源:https://www.3d-china.cn/products/22.html 发布时间:2019-10-18
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使用平面度标准块可以依据VDI/VDE 2634 准则检查区域扫描系统光学测量中平面度的指示误差。标准块由特殊陶瓷制成,我们的特殊陶瓷与其它Al2O3制成的陶瓷平面度标准块相比,可在不同光线条件下测量,无需预处理或后期处理。表面漫散射特性符合VDI/VDE 2634准则。

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总部位于上海,在武汉、南京、沈阳、广州均设有分公司和办事处。
主要销售的产品为FARO三维扫描系统、美国Brunson准直光学仪器、激光跟踪仪测量配件、美国NRK公司的SA测量软件等工业产品。
服务涵盖:三维扫描、尺寸检测、逆向工程服务、扫描造型,抄数造型、产品测绘,产品结构设计、高级曲面设计。
上海总部地址:上海市嘉定区金沙江西路1555弄37号506室 
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联系电话:19916596463 (蒋经理)
公司网址:www.3d-china.cn

基本介绍:

使用平面度标准块可以依据VDI/VDE 2634 准则检查区域扫描系统光学测量中平面度的指示误差。标准块由特殊陶瓷制成,我们的特殊陶瓷与其它Al2O3制成的陶瓷平面度标准块相比,可在不同光线条件下测量,无需预处理或后期处理。表面漫散射特性符合VDI/VDE 2634准则。

产品特点:

50 x 50 x 12 mm

80 x 50 x 12 mm

100 x 100 x 12 mm

100 x 150 x 12 mm

多种精度等级,多种尺寸规格

可提供DAkkS证书或生产商精度校准报告

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